Bir tarayıcı elektron mikroprobu veya taramalı elektron mikroskobu (SEM, Scanning Electron Microscope), bir görüntü oluşturmak için bir yüzey üzerinde, bir elektron ışını tarayan cihazdır. Normal olarak insan gözü, çok ince ayrıntıları yakalayamaz. Bu yüzden teknolojik olarak yeni cihazlar geliştirilmiş ve görüntü iletimini sağlayan ışık yolları, mercekler yarınıyla değiştirilmiş ve çok ince ayrıntıların izlenmesi mümkün olmuştur. Ancak bu tür optik cihazlar da bir noktada yetersiz kalmaya başlayınca, elektronik ve optik sistemler bir arada kullanılarak yüksek büyütme özelliğine sahip ve üzerinde işlem ve analizler yapılabilen görüntüler elde sunan yeni cihazlar geliştirilmiştir.

Malzemeler ve cihazlar için boyutlar daraldığından, çoğu yapı artık normal mikroskop ile karakterize edilemez. Örneğin, filtrasyon için bir nano elyaf katmanının bütünlüğünü tespit etmek için, tarayıcı elektron mikroskobu gerekmektedir.

Yeterli aydınlatma koşullarında insan gözü, herhangi bir mercek kullanmadan 0.2 mm aralıklarla iki noktayı tespit edebilir. Bu mesafeye gözün çözünürlüğü denir. Bu mesafeyi arttırmak için bir mercek veya mikroskop kullanılır. Modern bir ışık mikroskobu yaklaşık bin katı maksimum büyütme gücüne sahiptir. Bir tarayıcı elektron mikroprobu, ışık dalga boyu normal mikroskoplarda sınırlayıcı bir faktör haline geldiği için geliştirilmiştir. Bu cihazlar, numuneyi yüksek enerjili elektron demeti ile tarayarak görüntü üretir. Elektron ışını numunenin yüzeyine çarptığında, hızlanma voltajına ve numunenin yoğunluğuna bağlı olarak numunede birkaç mikron derinliğe nüfuz eder.

Kuruluşumuz rezerv değerlendirmesi kapsamında tarayacı elektron mikroprobu ve SEM hizmetleri de vermektedir. Bu hizmetler sayesinde işletmeler, güvenli, hızlı ve kesintisiz bir şekilde, daha etkin, yüksek performanslı ve kaliteli hizmetler vermektedir.

Rezerv değerlendirmesi kapsamında verilen tarayacı elektron mikroprobu ve SEM hizmetleri yanı sıra kuruluşumuz başka risk yönetimi hizmetleri de vermektedir.